引言
對于塊狀樣品的XRD測試，往往是把塊狀樣品研磨成各向同性的粉末狀態，再利用發散的線狀X射線（布拉格-布倫塔諾幾何）對樣品進行測試分析。但是有些塊狀樣品研磨成粉末是不現實的，比如稀有的塊體樣品，或是鑲嵌在基體上的某個微小區域，又或者希望研究某個塊狀樣品上物相的空間分部等等。微區XRD分析技術為此類樣品提供了有力工具，能夠分析原始狀態的樣品，對樣品的各個部分進行物相分析。
本文以地質樣品天青石為例進一步說明微區衍射的作用。以下文中的數據是在德國布魯克公司D8 ADVANCE型號衍射儀上采集。該衍射儀配置全維度探測器，除了可以做常規的XRD為，還可以是實現二維衍射。
常規XRD測試（布拉格-布倫塔諾幾何）
通常情況下礦物標本是使用布拉格-布倫塔諾幾何測量的。 使用線光斑和一維探測器的布拉格-布倫塔諾幾何（圖2）收集了巖板的大面積掃描圖譜（圖 1，綠色框）。 在測量過程中，樣品以 phi 為單位旋轉。 來自基質的石英在衍射圖案中占主導地位，并且還可以識別出痕量的水鋁石和黃鐵礦。但與天青石相關的相卻不存在。 常規XRD測試適用于粉末樣品，但原位樣品的精細細節可能會在噪音中丟失，就像本例中的天青石晶體一樣。
圖1 布拉格-布倫塔諾幾何數據是從綠色方塊指示的區域收集的。
從紅色和藍色斑點表示的兩個區域收集微區衍射數據。
圖2 布拉格-布倫塔諾幾何中的廣域掃描圖（插圖示意圖）。
由于照射面積大，衍射信號以基質為主，主要是石英， 還鑒定出痕量的方沸石和黃鐵礦
圖 3 微區衍射儀2D 圖譜。
天青石斑晶（頂部，紅色框）和石英巖基質（底部，藍色框）的微衍射。
天青石2D圖中的衍射斑點表明有大晶粒，而連續的衍射環表示細晶粒，兩種晶粒共存。
微區衍射測試
2D 微區衍射用來更好地表征天青石的結構。采用 0.5 mm 點光斑和 EIGER2 探測器2D 模式，原位測量天青石晶體和石英巖基質（圖 1，紅色和藍色圓圈）（圖 3）。 在測量過程中，樣品以 3rpm 的 phi 轉速旋轉，并以 psi 從 0° 到 35°（偽Gandolfifi）振蕩以獲取更多反射。 微區衍射證實基質主要是細粒石英（藍色圓圈），而天青石晶體（紅色圓圈）包含多晶水鋁石、偏水鋁石和石膏的共生體（圖 4）。
圖4 微區衍射2D圖譜做方位積分后得到的一維XRD圖譜。
基體數據（藍色）主要是石英，來自天青石包裹體（紅色）的數據顯示了多種礦物相。
總結
藍色天青石晶體含有小的多晶礦物包裹體，如水鋁沸石、偏沸石、石英和石膏。微區衍射可用于研究原位巖板和薄片的較小感興趣區域。 通過利用樣品的旋轉和傾斜，可以將樣品保持在原始狀態，同時從小區域收集高質量的粉末衍射數據。 EIGER2 探測器能夠從 1D 到 2D 幾何結構無縫轉換，從而輕松收集傳統粉末掃描和微區衍射數據。
1. * 本文引自布魯克公司應用報告XRD 616: μXRD in Geology with EIGER2 R 500K
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