下照式X射線熒光鍍層測厚儀

儀器介紹

Thick600是天瑞儀器*的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結構，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

儀器分析原理

Thick600采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

下照式X射線熒光鍍層測厚儀

樣品測試步驟

1）              每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2）              進入測試軟件后，選擇“測試條件”

點擊“確定”，即測試條件確定（儀器已設置好）

3）              選擇“工作曲線”

如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4）              放入“Ag片”對儀器進行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到一定的數，如300以上）。

5）              待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。

6）              測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。

注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。

儀器性能特點                                       

1. 長效穩定X銅光管；
2.半導體硅片電制冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數盒；
3.內置天瑞儀器研發部研發的—信噪比增強器（SNE）與MCA多道分析器；
4.內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品；
5.脈沖處理器，數據處理快速準確；
6.手動開關樣品腔，操作安全方便；
7.三重安全保護模式；

8.整體鋼架結構、外型簡潔；
9.FP軟件，無標準樣品時亦可測量。

質量保證、技術服務

1.儀器進行終身維修；

2.軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供軟件升級，不再收取升級費用；

3.保修條款

3.1乙方對本合同銷售儀器設備自驗收合格之日起免費保修1年；

3.2保修期結束后，乙方為甲方提供維修服務的資費標準如下：

交通費、住宿費由甲方承擔；

資費標準：硬件成本費用——按乙方時價計算

硬件運輸費——實報實銷

服務費——300元 / 人 / 天

人員交通費——實報實銷

人員住宿費用——￥300元/天

4.技術服務的響應期限：提供zui有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有

必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。