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價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應用領域 | 綜合 |
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組件類別 | 光學元件 |
6433P光波元件分析儀
(調制頻率范圍覆蓋: 10MHz~110GHz)
一、6433P光波元件分析儀概述
6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器,頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz,集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式,6433P 光波元件分析儀具有對數(shù)/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式,能夠精確測量光電網(wǎng)絡的幅/相頻特性,主要應用于高速電光器件(電光強度調制器、直接調制激光器、光發(fā)射組件)、光電器件(探測器、光發(fā)射組件、探測器芯片)及光光器件(光衰減器、EDFA)的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數(shù)的測試。
二、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋;
頻率分辨率1Hz;
測試功能豐富,具備傳輸、反射等多種參數(shù)測試功能;
一體化多功能測試界面;
向導式校準及一鍵式快速掃頻測試;
多窗口顯示及快速分析;
自動夾具移除,快速獲取探針數(shù)據(jù);具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集,可實現(xiàn)自動測試
三、6433P 光波元件分析儀功能描述
6433P 光波元件分析儀調制頻率高達110GHz,頻率分辨率為1Hz,可實現(xiàn)高速寬頻帶光器件及光芯片調制特性測試
6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式,功能模式之間可任意切換,可滿足光器件的S參數(shù)、阻抗、時域等參數(shù)測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數(shù)、光路去嵌入?yún)?shù)、射頻去嵌入等參數(shù)的設置。
6433P 光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時,采用向導式校準,方便用戶對儀器進行快速校準,獲得被測件準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案,利用核心算法,實現(xiàn)電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。
6433P 光波元件分析儀支持64個測量通道,32個測量窗口,每個窗口可同時顯示16條測試軌跡,可實現(xiàn)結果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快速實現(xiàn)各種輸入和選擇操作,快捷高效,便于用戶快速分析數(shù)據(jù),為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。
6433P 光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數(shù)測試難題。測試時,將高頻探針等效為夾具,通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數(shù),利用信號流圖提取頻域參數(shù),形成s2p文件,進而通過射頻去嵌入,實現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測試。
四、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品參數(shù)
五、6433P 光波元件分析儀典型應用
單端光器件測試
針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試,利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性;針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試,利用光標功能可快速分析3dB帶寬,評估器件的頻響特性;針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試,可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標的測量。
幅頻特性測試)
利用儀器提供的多種顯示模式,可實現(xiàn)相位、群時延等信息的顯示,可快速實現(xiàn)相頻特性等指標的測量。
(相頻特性測試)
平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型,實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求,更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領域中多端口參數(shù)的測量場合。
光芯片在片測試
6433P 光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針,可實現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。
自動化測試
6433P 光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集,方便用戶進行遠程控制。通過網(wǎng)口,只需完成設備的互聯(lián),發(fā)送命令即可實現(xiàn)一體化的自動測試方案,方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。