判斷光源質量三個重要標準：

 a)光譜匹配度

光譜匹配度的定義是模擬光在6個光譜范圍內與太陽光的匹配程度，用百分比來表示。任何數(shù)據(jù)的偏離情況就能對模擬器匹配程度的等級進行劃分。對于AA*產品，理想的匹配百分比范圍是0.75 到1.25。由于Pasan擁有更為優(yōu)良的濾波鏡片，使得Pasan的光源表現(xiàn)，其LMT和VLMT兩個系列的光源，已達到了A*標準，比IEC的*標準高出一倍：SM<±12.5%, IU<1%, LIT<1%,，STI<0.5%

b)輻照的均勻性

是指在指定測試區(qū)域的輻照度應達到一定的均勻度，光照均勻性是難達到和保持一項指標，工作面積上的強光點會導致被測電池效率產生的嚴重誤差和其他性能的紊亂。AA*產品就能將這種強光點對產品的影響降到，其空間均勻性嚴格控制于≤±2%。 大面積穩(wěn)態(tài)太陽模擬器，需要使用復雜的光學結構。太陽模擬器常用的勻光結構有兩種：一種是鏡面反射、透射為主的勻光結構，它一般采用燈陣、反射鏡，透鏡陣列等光學器件進行組合[15-16]；另一種是漫反射為主的勻光結構，主要通過封閉的漫反射環(huán)境來實現(xiàn)勻光。

 c)輻照的穩(wěn)定性

輻照穩(wěn)定度是AA*標準的第三項性能參數(shù)指標，它要求模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性，對于輻照不穩(wěn)定度，還細分為不穩(wěn)定度（LTI）和短期不穩(wěn)定度（STI），分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。脈沖時間對于晶體硅電池而言，是*沒有影響的，因為其響應時間（response time 或者delay time）非常短，在測試儀采集數(shù)據(jù)的時候，電池早已達到飽和。但是對于染料敏化電池、非晶硅薄膜電池尤其是多結、HIT和Sunpower等其他結構的電池，其響應時間（delay time）從幾個ms到幾百個ms不等，其響應時間在取點時太陽電池是 否已經飽和穩(wěn)定，是個必須認真考慮的問題。