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　　Park原子力顯微鏡，英文縮寫（AFM），是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。

 

　　Park原子力顯微鏡原理介紹：

 

　　Park原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的，原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的(掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。)具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的一些不足。

 

　　優點：

 

　　相對于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優點。

 

　　1、不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。

 

　　2、同時，AFM不需要對樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對樣品會造成傷害。

 

　　3、電子顯微鏡需要運行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡STM相比，由于能觀測非導電樣品，因此具有更為廣泛的適用性。當前在科學研究和工業界廣泛使用的掃描力顯微鏡，其基礎就是原子力顯微鏡。