產地類別	進口	應用領域	綜合

手機面板檢測儀

簡單介紹：

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詳情介紹：

手機面板檢測儀的詳細資料

技術指標

測量系統	單光束
檢測器	1024 光電二極管陣列檢測器
光源	鹵鎢燈
波長范圍	400 ~ 1,000nm
測量光束直徑	Φ1 mm
建議樣品尺寸	*小Φ1.3 mm
波長**度	<1.5 nm (在637.80nm處氧化鈥濾光片)
波長重復性	0.2 nm
光度準確度	<1.5 %T(在546.1nm, 590nm, 635nm處中性密度玻璃濾光片）
光度重復性	<0.2 %T
載物臺	雙層載物臺設計(尺寸: 210 x 140 mm, 移動范圍: 75 x 50 mm)
目鏡	寬視野 WF10X(Φ20 mm)
物鏡	5x

手機面板測試儀的詳細資料

技術指標

測量系統	單光束
檢測器	1024 光電二極管陣列檢測器
光源	鹵鎢燈
波長范圍	400 ~ 1,000nm
測量光束直徑	Φ1 mm
建議樣品尺寸	*小Φ1.3 mm
波長**度	<1.5 nm (在637.80nm處氧化鈥濾光片)
波長重復性	0.2 nm
光度準確度	<1.5 %T(在546.1nm, 590nm, 635nm處中性密度玻璃濾光片）
光度重復性	<0.2 %T
載物臺	雙層載物臺設計(尺寸: 210 x 140 mm, 移動范圍: 75 x 50 mm)
目鏡	寬視野 WF10X(Φ20 mm)
物鏡	5x

詳細信息

特點

• 小型化獨立本體 (小的占地面積)
• 光電陣列檢測器（PDA)
• 小樣品的透射率和反射率測量功能
• 高信噪比
• 優異的波長重復性

應用

• 新型LED光電材料檢測分析
• 微觀顆粒的可視化檢測分析
• 涂層色度檢測分析
• 刑偵，法醫鑒定分析
• 半導體材料分析
• 薄膜厚度測量

規格

• 檢測系統 : 單光束
• 檢測器 : 1024 光電二極管陣列檢測器
• 光源 : 鎢燈
• 波長范圍 : 400 ~ 1,000納米
• 波長精度 : 1.5 納米
• 波長重復性 : 0.2 納米
• 平臺 : 機械雙層平臺 (尺寸 : 210 x 140 毫米, 移動范圍 : 75 x 50 毫米)
• 目鏡 : 廣視角 WF10倍(直徑20 mm)
• 物鏡 : 5x

VMS-1S

詳細信息

特點

• 小型化獨立本體 (小的占地面積)
• 光電陣列檢測器（PDA)
• 小樣品的透射率和反射率測量功能
• 高信噪比
• 優異的波長重復性

應用

• 新型LED光電材料檢測分析
• 微觀顆粒的可視化檢測分析
• 涂層色度檢測分析
• 刑偵，法醫鑒定分析
• 半導體材料分析
• 薄膜厚度測量

規格

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