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當前位置：上海富瞻環保科技有限公司>>環保節能/環境/氣象>>粒子計/粉塵顆粒/氣溶膠>> 通用版3938型掃描電遷移率粒徑譜儀
| 應用領域 | 醫療衛生,環保,食品,生物產業,制藥 |
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選擇您氣溶膠測量對的全球標準配置。 TSI掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS™)掃描電遷移率粒徑譜儀幫助研究者取得了氣溶膠研究的新突破，并協助校準參考材料和其它氣溶膠儀器。美國國家標準技術研究所（NIST）和世界各地的許多其它參考實驗室使用TSI SMPS™進行亞微米粒徑分布測量。TSI SMPS™掃描電遷移率粒徑譜儀是研究人員用于納米粒子粒徑分布測量的。
通用版第三代3938型掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS采用模塊化、基于組件的設計，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描（每次掃描小于15秒）和自動組件識別功能。TSI SMPS易于使用，并可以為研究人員提供最高質量數據。
掃描遷移率粒徑譜儀(SMPS™)是一款納米級粒徑譜儀，能夠精確地測量空氣中亞微米顆粒的粒徑分布。它將電遷移率測量和單粒子計數相結合，在離散粒徑通道提供納米粒子濃度。SMPS™的高分辨率高達128個通道/10 倍粒徑，總共可達384個通道。
SMPS™3938是基于組件的，允許用戶定制他們所需要的的SMPS以匹配具體的實驗需求。用戶可以選擇四種差分靜電遷移分析儀(DMAs)，六種凝聚核粒子計數器(CPCs)和兩種不同的氣溶膠中和器，使測量范圍從1 nm到1µm。當SMPS與光學顆粒物粒徑譜儀(OPS)或空氣動力學粒徑譜儀(APS)耦合時，連續測量范圍可分別擴展到10µm或20µm。
納米技術研究和材料合成
大氣研究和環境檢測
燃燒和發動機排放研究
室內空氣質量測量
成核/凝結研究
吸入毒理學研究
高分辨率數據:高達384個通道
寬粒徑范圍:從1 nm到1,000 nm
符合ISO 15900:2009 標準
快速測量： <15秒掃描
濃度范圍廣，可達107個粒/cm3
模塊化組件設計，最大限度地提高靈活性
觸摸屏控制，獨立操作(不需要電腦)
輕松設置，無需工具安裝和自動檢測組件
離散粒子測量：適用于多模式樣品
粒徑測量與粒子和流體的光學特性無關
廣泛的系統選擇：可選擇水或丁醇CPC;選擇傳統或非放射性中和器
與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器
七款凝聚粒子計數器之一
Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件
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