18930218592
當前位置：上海富瞻環?？萍加邢薰?/a>>>測量/計量儀器>>表界面物性測試>> VIT系列硅片表面形貌測量
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,公安/司法,汽車及零部件,電氣 |
硅片表面形貌測量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測量
Film Stress薄膜應力量測儀
FEOL Electrical Characterization 電學特性
Thin wafer metrology 晶圓測量學
Film Adhesion漆膜附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網