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IXplore Standard 研究級顯微鏡系統(tǒng)
產品品牌：Bruker
產品型號：Innova
同類AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）具有很高的分辨率，實用性強，從器件表征到物理化學、生命科學、材料科學等方面都有廣泛應用。這是一套簡易的裝置，儀器成本合理，適用于科學研究。Innova具有的閉環(huán)掃描線性化系統(tǒng)，測量準確性，而且維持噪音水平接近開環(huán)的低噪音水平。
使用Innova檢測樣品時，從亞微米級的小尺寸樣品到達90微米的大尺寸樣品，都可進行實驗操作，且獲得原子級分辨率，測量不同尺寸樣品無需更換掃描器等硬件；替換探針或樣品等操作簡便易行；集成化高分辨率彩色光學系統(tǒng)和可編程自動化Z軸調節(jié)系統(tǒng)，可快速簡易地定位到待測區(qū)域聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結構及性質，數(shù)據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，食品、化學品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質、能源、環(huán)境等領域高分辨率
Innova的機電設計，包括帶有短機械路徑和低熱漂移的堅固顯微鏡平臺，低噪音電子器件，都做了優(yōu)化，具有高分辨率和閉環(huán)掃描的組合。利用的低噪音數(shù)字閉環(huán)線性化掃描，不管掃描尺寸，偏移量，掃描速度或掃描角度的旋轉如何設置，對樣品均可準確測量，高分辨成像。
性能
Innova 機電設計的方面，包括從帶有短機械路徑和低溫度漂移的堅固顯微鏡平臺到低噪音電子器件，都做了優(yōu)化，得到高分辨率性能和閉環(huán)掃描的組合。
Innova利用的低噪音數(shù)字閉環(huán)線性化掃描，達到對尺寸均可準確測量，而不管掃描尺寸，偏移量，掃描速度或掃描角度的旋轉如何設置。在90微米到亞微米級成像范圍內均可獲得高質量圖像，并且閉環(huán)噪音水平接近開環(huán)噪音水平。另外，閉環(huán)線性化掃描可以在線啟動或關閉。這個靈活性允許其對全尺寸掃描的任意一部分進行放大至原子分辨率掃描，而不用更換掃描器，且無需從測量表面抬起探針。圖像的旋轉，圖像在成像窗口的位置以及掃描速度不會影響成像結果。
行業(yè)應用：
您的應用是什么—Innova都已準備好：
• 材料科學
• 納米刻蝕
• 生命科學
• 聚合物
• 器件表征
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