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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>X射線儀器>> TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2023-05-16 17:50:40瀏覽次數(shù)：340次
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應用領域 | 地礦,能源,建材/家具,電子/電池,電氣 |
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
痕量分析 TXRF 光譜儀
TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。
便攜式全反射熒光儀，設備小巧，一體化結構設計，不需要任何輔助設備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場進行分析。
1位及25位全自動進樣器兩款設計，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射無背景，熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好，用戶不需要標樣就可以進行定量分析。
行業(yè)應用：
水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領域。
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