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光耦參數測試儀型號：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產品或電子元件供應商來料檢測。 
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
※             測量參數:

參數指標表:

參數項	測試參數	測試條件設置
輸入正向壓降(VF)	0-2.000V	0-400MA
耐壓(BVCEO)	0-1200V	0-2.000MA
傳輸比(CTR)	0-3000	VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)	0-2.000V	IF:0-400MA IC:0-2.00A
輸出漏電流(Iceo)	0-1mA	VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)	0-1mA	VR=4V