粒度儀的反演“天機”
　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。隨著工業生產實踐的不斷，針對小粒徑顆粒、不規則形狀顆粒和特殊材料顆粒的研究越來越深入。基于線陣 CCD 探測器的激光粒度儀測量性能需要從顆粒的散射光學模型、儀器的光學結構和采集數據的反演算法三個方面來進一步提高。
　　粒度儀現在作為粉體材料粒度表征的重要工具，已經成為當今適用非常廣的粒度儀，在各領域得到廣泛應用。現在市場上粒度儀品牌較多，有時對同一樣品的測試結果也有較大差異。那么造成這種差異的原因是什么呢？除了樣品和操作人員的不同之外，主要的原因是各粒度儀廠家使用的的反演算法有很大差異。什么是反演？反演就是對反問題的求解過程。
　　粒度儀的兩個核心就是光路系統和數據處理系統。光路系統主要控制的是測量范圍，數據處理系統主要控制的是的是結果的性。數據處理系統就包括了信號的濾波、提取和反演算法。
　　比如說在測量大合唱時那么你需要通過合音來推算出都有哪些人在參加大合唱，每個人的音量在合音中的貢獻比例是多少這就是反演算法，反演算法是通過數學的方法求解反問題，它的性依賴所用算法的適應性。
　　反演算法是通過數學的方法求解反問題，它的性依賴所用算法的適應性。粒度儀中Mie散射系數矩陣A就是病態矩陣，且條件數較大，求解過程更復雜。我們可以通過矩陣關系式Ax=b，其中A為Mie散射系數矩陣，b為光散射向量，即激光粒度儀每個通道的信號組成的一維矩陣，x就是要求解的粒度分布數據。當b光散射向量有微小波動都會造成粒度分布x有劇烈波動，這是粒度儀反演算法的難點所在，并會直接影響激光粒度儀的重復性和性。