化工儀器網(wǎng)
詳細(xì)介紹
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
OFV-5000 觸摸屏高性能模塊化控制器
OFV-2520雙通道控制器
OFV-2570高頻控制器
VDD基于PC的數(shù)字激光測振
Polytec特殊應(yīng)用激光測振儀
RSV-150遠(yuǎn)程激光測振儀
RSV-150特寫鏡頭
RSV-A-261、RSV-A-166、RSV-A-261/RSV-A-261、RSV-A-261/RSV-A-166、RSV-A-166/RSV-A-166
HSV-100高速型激光測振儀
HSV-E-100-01 、HSV-E-100-02 、HSV-E-100-01MC
OFV-552光纖干涉測量儀
RLV-5500回轉(zhuǎn)激光測振儀
RLV-5500回轉(zhuǎn)激光測振儀傳感器頭
傳感器頭RLV-500-175 、RLV-500-275 、RLV-500-475 、RLV-500-675
傳感器頭RLV-500-124 、RLV-500-224 、RLV-500-424 、RLV-500-624
PSV-A-440光學(xué)反旋器
PSV-O-440旋轉(zhuǎn)單元
PSV-A-410-DER同軸單元
PSV-E-440控制器
PVC-SDR控制軟件
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
PSV-A-P44可調(diào)底座架
PSV-A-T44底座底架
Polytec掃描式激光測振儀
PSV-500-NH掃描式激光測振儀（筆記本型）
PSV-500掃描式激光測振儀
PSV-500-3D三維掃描式激光測振儀
PSV-A-440 光學(xué)解調(diào)器
MSA-500微系統(tǒng)分析儀
Polytec基于顯微鏡的系統(tǒng)
MSA-500微系統(tǒng)分析儀
A-STD-TEST-01試驗(yàn)臺
A-PST-200P精密定位平臺
A-TAB-AIR-01主動隔振表
A-TAB-ELC-01主動隔振表
AL-WEST-0001工作站
MSA-050微系統(tǒng)分析儀
A-STD-BAS-01底座支架帶z軸
A-PST-050S XY定位平臺
MSA-100-3D微系統(tǒng)分析儀
MSA-100-3D單點(diǎn)的三維測振儀
MSA-100-3DSV掃描三維測振儀
UHF-120超高頻測振儀
Polytec測振儀軟件
PSV掃描測振儀軟件
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
VibSoft數(shù)據(jù)采集軟件
PMA軟件
快速檢查軟件
保利達(dá)文件訪問軟件
掃描查看器軟件
測振儀面板軟件
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
ME'scope模態(tài)軟件
Polytec速度和長度傳感器
LSV-A-110接線盒
LSV-A-120 Air Wipe With Quick Exchange Window
LSV-A-124測試安裝工具包
LSV-A-122冷卻板
LSV-A-130調(diào)整 - /安裝平臺
LSV-A-121熱保護(hù)罩
LSV-1000/-2000激光測速儀
LSV-1000 MID / MID-2000
LSV-300激光測速儀
Polytec表面測量
TMS-500-R TopMap Pro.Surf+
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
TMS-500 TopMap Pro.Surf
TMS-100 TopMap Metro.Lab
TMS-350 TopMap In.Line
支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
TMS-1200 TopMapμ.Lab
Polytec動態(tài)應(yīng)力和應(yīng)變測量
非接觸式測頭PSSH-A03
接觸式探頭PSS-HB01
Polytec光譜儀系統(tǒng)
Polytec光譜儀
PSS 0850、PSS 0950、PSS 1050、PSS 1720
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
PSS 1750、PSS 2120、PSS 2220、PSS 2520
Polytec是一個(gè)性的公司，在歐洲，北美和亞洲都有工廠。借助于創(chuàng)新的光學(xué)產(chǎn)品，的品質(zhì)和支持的聲譽(yù)，我們可以成功的利用資源進(jìn)行投資并保持靈活性，從而迅速滿足我們的客戶不斷變化的測量需求。
Polytec非接觸式振動測量儀
Polytec單點(diǎn)式激光測振儀（面外振動測量儀）：單點(diǎn)式激光測振儀測量的是目標(biāo)表面上某一個(gè)點(diǎn)的振動特性，具體地說是測量物體表面沿入射激光束方向振動向量的投影分量。
OFV-50X單點(diǎn)式光學(xué)頭
OFV-551光纖式光學(xué)頭
OFV-552光纖式光學(xué)頭*Polytec非接觸式振動測量儀*Polytec非接觸式振動測量儀
OFV-534緊湊型光學(xué)頭
Polytec軟件
PSS-S-DRV、PAS SERVER、PAS LABS
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