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詳細摘要： GTEM1250小室為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM ...

詳細摘要： GTEM1000小室為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM ...

詳細摘要： GTEM750小室為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室...

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詳細摘要： GTEM250小室為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室...