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BYK微型三角度光澤儀µ厚度測量
閱讀：1151 發布時間：2017-11-6厚度(僅適用微型三角度光澤儀µ):
首先選擇探頭(Fe,NFe)。 屏幕顯示校準菜單。根據選擇的Fe或NFe探討，將儀器放在金屬標準板 上，按操作按鈕。
零點設置完成后，屏幕顯示”AIR” (空氣），將儀器移至半空，并按動 操作按鈕。 校準完成后屏幕顯示(OK)確認。儀器返回到校準菜單項目。 注意： 膜厚測量通常會受到金屬基材的影響。因此建議可在沒有涂層的金屬 樣品上進行零點校準后，再測量樣品的涂層厚度。此時樣品的基材替 代了隨機附帶的金屬板。
更改校準數據 :
校準標準的光澤數據在隨機附帶的保護罩內。在進行自動校準時，跟 據保護罩內的數據設定標準。 在有些情況下，有必要輸入新的校準標準數據。例如：原配的標準板 損壞或劃傷。
為確保校準，只能使用由原廠提供的標準板 ，只能使用由原廠提供的標準板。 按照左圖顯示的路徑到達更改校準數據菜單項。
有三個角度單位在選擇菜單中顯示。按動滾輪，選擇需要的角度。
在修改前，屏幕顯示警告信息。如需取消可按動操作按鈕退出。 如果按下滾輪，您將進入更改校準數據程序。
在接下來的屏幕中您可輸入新的校準數據。
在您輸入新的數據后，屏幕再次顯示警告信息。您可再次按動操作按 鈕取消輸入并退出。 如果您確認屏幕顯示的剛輸入的新數據，請按下滾輪。
當更改完所有的數據后，請對儀器重新校準。
狀態 :
該菜單項提供您儀器校準狀態的相關信息。 在該菜單項中您可檢查比對儀器中存儲的校準數據和保護罩內的校準 數據。同時屏幕還個別顯示zui近一次自檢或校準中某個角度的錯誤信 息。錯誤信息的更詳細內容參見后面的錯誤和警告信息章節。
您可以分別對光澤和測厚的測量數據標尺進行設置。
膜厚測量 :
膜厚探頭的功能是根據電磁感應方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。因 此測量結果在高磁場或電磁波的環境下產生偏差。 測量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。 測量結果還會受到諸如復合物或底材熱處理的影響發生偏差。應此推薦 在沒有涂層的產品上進行零點校準后再進行樣品測量。 對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機誤差，建議使 用多點測量法。 如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量涂層 膜厚，請注意以下幾點：
● 用于NFe設置，基材厚度至少50µm。（例如非磁性涂層）
● 用于Fe設置，非磁性涂層厚度已包含在測量結果中。