菲希爾XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾臺式鍍層測厚及材料分析儀技術說明

【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230創新設計理念】
本儀器采用人性化操作界面設計，配備三軸精密定位系統：手動X-Y工作臺與電動Z軸協同運作，結合高分辨率彩色視頻顯微系統（集成十字線瞄準功能），可實現測量點亞微米級精確定位。創新視頻觀察窗口支持實時監測測量進程，測量倉底部特殊開槽設計突破傳統尺寸限制，可容納長寬超出臺體的大型扁平樣品（如整塊PCB電路板），顯著擴展工業應用場景。

【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心檢測性能】
檢測原理：能量色散型X射線熒光光譜（EDXRF）
元素覆蓋：氯（Cl-17）至鈾（U-92）分析
多元素檢測：通過WinFTM BASIC軟件擴展，支持24元素同步測定
測量方向：垂直向下非接觸檢測
分辨率極限：超薄鍍層（納米級）與復雜溶液體系精準分析

【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230精密檢測系統】
X射線源配置：

• 鎢靶X射線管（鈹窗透射）

• 智能三檔高壓輸出：30kV/40kV/50kV可調

• 多規格準直器可選：
  ? 標準0.3mm孔徑
  ? 可選0.1mm/0.2mm微孔
  ? 0.3×0.05mm矩形微束