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TM Electronics SOLUTION-C 系統用于測試那些不能通過入口加壓，比如密封的醫療、藥品和食品等的軟性包裝，并能提供定量的測試結果。結合加壓/真空衰減泄漏測試的靈敏性和密封腔體的穩定性，TM Electronics SOLUTION-C系統配合Pressure/Vacuum decay chamber能檢測出小到5微米的小孔。廣泛應用于泡罩，軟包裝袋，瓶，復合薄膜，金屬箔，薄板材等。

優良的性能:

• 高重復性
• 加壓或是真空衰減測試
• 檢測針孔，裂紋，密封或是管道泄漏
• 實時統計分析和質量控制表
• 工業，醫療，食品和藥品應用
• 追溯NIST校準服務
• CFR Part 11 數據保護
• 符合美國包裝協會標準

藥品/食品應用：泡罩，瓶，軟包裝袋，密封蓋，管路，復合膜，金屬箔，薄板

氣壓/真空腔體衰減測試如何進行？

當往測試腔體通入氣體，在密封的測試腔體壁內外可能形成一個氣壓差。當穩定后，空氣從較高的氣壓流到較低的氣壓，將反應泄漏的存在，這樣可以為包裝完整性提供定量的測試數據，而不需要破壞密封的包裝。

密閉的測試腔體，可以使用加壓或是真空來建立氣壓差。測試物體放進腔體，然后對密閉腔體間隙空間加壓（或是抽真空）。當達到測試氣壓值，TM Electronics SOLUTION-C檢漏儀可以探測到空氣從小到5微米的小孔泄漏。

TM Electronics Solution－C可以同步對測試結果進行統計分析，為客戶提供適時的過程控制。更早期的發現過程生產中的問題，減少次品的產生。

儀器參數：

控制：按鍵，觸摸屏，鑰匙鎖，電源開關,

測試通道：1,2,3 或 4 同時或順序測試

測試模式：加壓或是真空,氣壓差

型號氣壓范圍：

加壓:0.5-5, 0.5-15, 1-50, 2.0-100, 5.0-250 psig;

真空:0.2-28 inHg

分辨率： 衰減測試 zui大 0.0001 psi (0.01 mbar/sec)

顯示： LCD文字/圖像, 40字*16行

單位：PSI, Inches of H2O, kPa, mbar數據儲存器：可達5000個測試數據

程序儲存器：可達100個設定程序

統計方法：X-R控制圖, 直方圖,標準偏差,平均值,zui大/zui小,控制上限UCL/控制下限LCL

手動輸出：打印測試設置參數，當前結果，要求的數據記錄和統計信息Prints the

自動輸出：將當前測試數據打印到設置的打印機

輔助輸出：24V PLC輸出接口

通信端口：雙向上載或是下載程序

校準服務：追溯到NIST

時間范圍：1 到 1000 秒

尺寸：寬8 1/2” x深16” x 高10”

電源要求：110/220V, 50/60Hz, 150 Watt

儀器特色：

• 多個存儲程序：可以編程和存儲多達100個不同的測試或是測試參數
• 存儲5000個測試結果
• 調整設置時間（加壓，穩定，測試）
• 設置拒收限制，檢測精檢漏或粗檢漏雙
• 切換能力－提升生產效率
• 氣壓增加測試－檢查閥門關閉
• 管長度或是孔尺寸分析雙向RS232計算機連接，交換數據和遠程參數控制。可選以太網連接
• 聲音和指示器顯示拒收警告
• 觸摸屏菜單容易使用，讓您輕松實現所有靈活性