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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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產品圖片 產品名稱
fischerscope x-ray xul xym上海
fischerscope x-ray xul xym上海
簡單介紹:fischerscope x-ray xul xym上海
FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2024-03-20
參考價:面議 詢價留言
德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理
德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理
簡單介紹:德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理
FISCHER-SCOPE X-RAY產品線還具備近30年的經驗,并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細小結構和大型工件上的單一或復合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產線上在線測量,
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2023-07-12
參考價:面議 詢價留言
x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb
x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb
簡單介紹:x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統擁有良好的多毛細孔X射線聚焦裝置,既能有效地縮小測量點的面積,又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器,特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2021-05-13
參考價:面議 詢價留言
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀
簡單介紹:X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀
在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時,XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2021-04-16
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菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
簡單介紹:菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準直器的情況下,可以達到很高的計數率,從而實現良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2021-02-23
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
簡單介紹:Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2020-12-28
參考價:面議 詢價留言
德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀
德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀
簡單介紹:德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅動的Z軸系統。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以準確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2020-11-06
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XULM 240德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀
XULM 240德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀
簡單介紹:德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀
XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
產品型號:XULM 240   所在地:上海市   更新時間:2020-09-17
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Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀
Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀
簡單介紹:Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統配有快速可編程的XY平臺,因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面
產品型號:   所在地:上海市   更新時間:2020-09-17
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