X射線熒光光譜儀廠家規格參數：

型號：

測量元素：原子序數13(Al)～92(U)

樣品形態：固體、粉末、液體

射線源：X射線管球(Rh靶材)    

管電壓：zui大50kV  管電流：zui大1000μA

檢測器：Si半導體檢測器

分析領域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自動切換)

樣品觀察：彩色CCD攝像頭

濾波器：5種模式自動切換

樣品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm

定性分析：能譜測量、自動辨別、KLM標示表示、差異表示

定量分析：塊體校準曲線、塊體FP法

有害物質測量功能：環境管制物質測量軟件Ver.2、Dbeasy   

                              材料辨識、分析線切換、波峰分離顯示功能、波峰標記功能等

數據處理：配備EXCEL、配備WORD

外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm

安裝尺寸：1500（W）×1000（D）

重量：約60kg

使用電源（主機）：AC100~240V±10%單相

選購項：自動進樣器、能譜匹配軟件、薄膜FP軟件、各種標準物質

日立X射線熒光分析儀EA1000AIIIX射線熒光光譜儀特長：

1.通過快速測狼提高測量效率

與以往機型相比，每個樹脂與金屬樣品的測量時間*均大幅縮短。每天的處理量實現跨越式增長。

*包涵統計誤差（3σ）達到Cd 20 mg/kg、Pb、Hg、Br、Cr 100mg/kg以下所需的切換時間。

2.材料辨識功能

測量開始后，可在短時間內（25秒以下）識別待測樣品的材質。材料大體分為樹脂（PE、PVC）、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚樣品的材質，也無需為如何選擇分析方法而困惑。

   ●材料辨識測量模式

     識別待測樣品的材料類型，自動選擇*的分析方法

   ●材料辨識自動測量模式

     識別待測樣品的材料類型后，自動選擇適合的分析方法進行測量，并顯示結果。所有步驟實現全自動處理。

3.分析線切換功能

本功能是由儀器判斷所含元素與波峰的重疊情況，并自動選擇統計誤差較小的分析線。可以更加有效地管理精度、提高測量效率。

4.大型樣品室與自動進樣器（選購項）

日立X射線熒光分析儀EA1000AIII的大容量樣品室可輕松測量大型樣品。自動進樣器zui多可連續測量12個樣品，可輕易將微小的樣品置于正確的測量位置上。

環境限制物質測量軟件Ver.2

●通過精度管理軟件優化測量時間（Ver.1已有功能）

●利用數據庫對各網點的測量數據進行集中管理（搜索、游覽、分析、編輯、打印、制作報告）

●對于之前曾經測過的同一樣品，可比較兩次的測量結果

●除了RoHS分析、鹵素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外，還可自由添加需要管理的元素