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日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
閱讀：752 發布時間：2019-3-6
能量色散型X射線熒光分析儀通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，X射線熒光分析儀可以對微小異物進行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復合材料制品的微小特定部位實施定點測量。
日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
憑借zui大150萬CPS的高計數率檢測器完成高靈敏度的測量，以及借助zui大250mm×200mm范圍掃描的快速電動樣品臺，實現快速掃描測量。對于范圍為100mm×100mm的情況，可在2～3分鐘內檢測出端子部分的鉛并確定其位置。
在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
為了隨時得到準確的分析結果裝置需要進行校正，而用戶們希望盡可能在短時間內完成校正時的操作和判定。EDX-LE在開啟儀器后會對能量校正和定量值校正的操作進行幫助，當需要進行校正時會自動進行校正。在日常操作中根據產品的不同會經常變更管理值，而該產品可以根據管理方法對篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報告所有操作都可以更有效的進行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權限限制設定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權限的人員由于誤操作而改變條件的現象。