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X熒光鍍層厚度測量儀的三大功能特點分析
閱讀：560 發布時間：2018-9-5
FT110A X熒光鍍層厚度測量儀通過自動定位功能，只需把樣品放在樣品臺上，便能在數秒內自動對準觀察樣品焦點，省略了以前手動逐次對焦的操作，大幅提高了測量效果，鍍層厚度測量儀熒光或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
X熒光鍍層厚度測量儀能通過新薄膜FP法提高測量精度
X熒光鍍層厚度測量儀可進行廣域樣品觀察
X熒光鍍層厚度測量儀具有自動對焦功能自動接近功能
在樣品臺上放置各種高度的樣品時，只要高低差在80mm范圍內，即可在3秒內自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。
●自動對焦功能簡便的攝像頭對焦
●自動接近功能位置的對焦
X熒光鍍層厚度測量儀能通過新薄膜FP法提高測量精度
日立FT110AX射線熒光鍍層厚度測量儀實現微小光束的高靈敏度，通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外，針對檢測器的特性開發了新的EP法，可進行無標樣測量。測量結果可一鍵生成報告書，簡單方便。
●新薄膜EP法
減少檢量線制作的繁瑣程度、實現了設定測量條件的簡易化
無標樣測量方法可進行zui多5層的膜厚測量
●自動對焦功能和距離修正功能
凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量
●靈敏度提高
鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2
●生成報告功能
一鍵生成測量報告書
X熒光鍍層厚度測量儀可進行廣域樣品觀察
FT110A對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數測量點位置的選取時間，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。