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詳細介紹
（供應）二手ICP光譜儀光學系統
1儀器光學系統要求:中階梯光柵前置棱鏡交叉色散系統;波長范圍177~785nm,全波長連續覆蓋;焦距:0.400米:光柵刻線: 94.74線/mm;
2紫外區和可見區分析波長測定方式:紫外和可見區必須同時測定,測定過程中無任何移動部件;
3密封單色器,恒溫35℃;
4波長校正方式:采用15種標準混合溶液進行波長校正,并且利用氬的發射譜線自動進行周期性的實時波長校正:
分辨率要求:像素分辨率≤ 0.004nm(200nm) ,光學分辨率≤0. 009nm(在20
0nm):
6.雜散光要求:≤2ppm As (10, 00ppm Ca溶液在As 188. 980nm處測定);
7單色器為吹掃型,吹掃氣流量不超過0.5L/min,且185nm以下波長測定:需要快速吹掃光路,吹掃氣流量不超過3L/min,氣體流量均有PC控制。
（供應）二手ICP光譜儀參數指標：
光學系統：中階梯光柵前置棱鏡交叉色散系統
波長范圍：177～785nm，全波長連續覆蓋
焦距：0.4m
光柵刻線：94.74線/mm
分辨率要求：像素分辨率≤0.004nm(200nm)，光學分辨率≤0.009nm(在200nm)
檢測器：背面入射式的CCD固體檢測器，有效象素≥112萬象素
線性范圍：結合MultiCal多重檢量線功能,需要達到108以上
功率范圍：700-1700W,增量50W,有PC控制
元素的檢測限(ug/L)：
Al 396.152 0.9；Cr 267.716 0.2；Fe 238.204 0.2 ；Cd 214.439 0.08 ；Co 238.892 0.3
環境溫度：10℃～35℃
相對濕度：8%～80%(不冷凝)
電源：220V±10%交流，50Hz
一個檢測器像素的全譜直讀ICP
覆蓋整個波長范圍，無波長段點；像素多能準確反應譜線形狀，準確進行背景和干擾模擬；采用CCD、成熟，量子化效率和暗電流
與其他公司系相比，是分析速度的ICP光譜儀
測定一個樣品無論多少元素需50秒；其中包含30秒進樣，2次讀數（每次讀10秒）
晶體振蕩控制、直接耦合40MHz的高頻發生器
標準配置為40MHz，即使是高鹽或樣品也能穩定炬焰，不易熄火，不易積鹽
計算機優化設計，光學性能
高分辨率、高通光亮；計算機控制前置光路，可在復雜基體中確定觀察高度；分光系統無移動部件，穩定性好。
整體分析性能
使用方便的工作站軟件——ICP光譜分析專家
提供了扣背景、譜線分離。內標測定等眾多的軟件工具，操作直觀、方便；全中文在線實時幫助，短時間里用戶的分析能力。
安捷倫ICP電感耦合等離子體ICP-OES瓦里安
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