CIX100奧林巴斯 清潔度檢測顯微鏡
讓您的技術(shù)清潔度檢測更簡便
進(jìn)口工業(yè)顯微鏡-清潔度檢測顯微鏡是一個專門的交鑰匙解決方案，適用于對所制造部件清潔度保持高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求的制造商。快速獲取、處理和記錄技術(shù)清潔度檢測數(shù)據(jù)，以符合公司和國際標(biāo)準(zhǔn)的要求。該系統(tǒng)直觀的軟件可指導(dǎo)用戶完成該過程的每個步驟，因此，即使是新手操作員，也可以快速輕松地獲取清潔度數(shù)據(jù)。
組件與零部件的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要。對于開發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程，滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，和國家指令對于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前，使用殘留顆粒物的質(zhì)量來描述殘留物特征。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)對諸如顆粒物數(shù)量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細(xì)的信息要求。
奧林巴斯CIX100檢測系統(tǒng)：簡化技術(shù)清潔度
保證部件、工件和流體具有合格的清潔度是制造過程的核心所在。在對大多為微米級尺寸的污染物和異物進(jìn)行計(jì)數(shù)、分析和分類的過程中達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn)，對于最終產(chǎn)品的開發(fā)、制造、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等各種工作流程都至關(guān)重要。各種國際和國家指令對于如何確定基本加工零件上顆粒污染的方法和記錄要求都有描述，因?yàn)轭w粒污染會直接影響工件和部件的使用壽命。目前的標(biāo)準(zhǔn)要求提供有關(guān)污染性質(zhì)的詳細(xì)信息，如顆粒的數(shù)量、粒度分布和顆粒特性。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統(tǒng)旨在滿足現(xiàn)代工業(yè)以及國家和國際指令對清潔度的要求。
標(biāo)準(zhǔn)的清潔度檢測流程：準(zhǔn)備（第1-3步）和檢測（第4-6步）。第1步：提取，第2步：過濾，第3步：稱重，第4步：檢測，第5步：審核，第6步：結(jié)果。
簡單、可靠
硬件和軟件無縫集成，打造出一款可以提供可靠、準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的耐用型高效率系統(tǒng)。
易于設(shè)置的自動化、交鑰匙解決方案
穩(wěn)定的測量系統(tǒng)設(shè)置有利于提供可重復(fù)的結(jié)果
*的光學(xué)性能和可再現(xiàn)的成像條件
自動化系統(tǒng)通過集成的校準(zhǔn)裝置進(jìn)行自檢
全系統(tǒng)集成，實(shí)現(xiàn)所有硬件部件的自動化控制
支持各種圓形和矩形樣品架
通過直觀的指導(dǎo)提高生產(chǎn)力
專用、簡單的工作流程可最大限度地減少用戶操作，并提供可靠的數(shù)據(jù) - 與操作員和經(jīng)驗(yàn)水平無關(guān)
借助便于使用的工具輕松修改檢測數(shù)據(jù)
分步指導(dǎo)可提高生產(chǎn)率，并縮短檢測時間
用戶權(quán)限管理可限制功能，以盡量減少人為錯誤
觸摸屏顯示大尺寸按鈕，容易點(diǎn)擊
符合要求的一鍵式報(bào)告，實(shí)現(xiàn)高效的文件記錄
所有數(shù)據(jù)均自動保存，并可輕松導(dǎo)出和共享
采用可選材料分析解決方案的獨(dú)立顯微鏡模式
快速實(shí)時分析
創(chuàng)新的一體化掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒的速度是需要兩幅獨(dú)立圖像的傳統(tǒng)方法的兩倍。即時反饋顆粒計(jì)數(shù)和顆粒分類的信息可幫助您快速做出決策。
用于快速識別濾膜范圍、顆粒簇或最差粒子的概覽圖像
對2.5 ?m至42 mm范圍內(nèi)的污染物顆粒進(jìn)行自動實(shí)時處理和分類
高效：系統(tǒng)在一次掃描中檢測反光和非反光顆粒
實(shí)時分析使您能對結(jié)果做出實(shí)時反應(yīng)
可根據(jù)選定的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)定制符合要求的結(jié)果
有效的數(shù)據(jù)評估
借助強(qiáng)大的、易于使用的工具修改檢測數(shù)據(jù)，支持公司和國際清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)。清晰呈現(xiàn)所有相關(guān)的檢測結(jié)果，節(jié)省時間。
圖像和數(shù)據(jù)的有組織排列，使數(shù)據(jù)審核效率更高
可選擇各種視圖，立即識別顆粒
顆粒位置和縮略圖鏈接到實(shí)時圖像
輕松地對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核、修改和重新計(jì)算
實(shí)時顯示整體清潔度代碼、顆粒和分類表
趨勢分析，以確定隨時間推移而出現(xiàn)的潛在的測量偏差
在一個視圖中顯示完整的檢測數(shù)據(jù)
創(chuàng)建合規(guī)報(bào)告
一鍵式報(bào)告制作方式符合國際標(biāo)準(zhǔn)中闡述的要求和方法。報(bào)告可以定制（例如，包括顆粒形態(tài)），從而可輕松滿足不同公司的特定標(biāo)準(zhǔn)。
使用預(yù)定義的合規(guī)模板生成專業(yè)報(bào)告
可輕松調(diào)整模板和報(bào)告，以滿足行業(yè)和公司的規(guī)定
支持各種輸出格式，包括MS Word和PDF
報(bào)告文件大小經(jīng)過優(yōu)化，輕松進(jìn)行結(jié)果共享
長期數(shù)據(jù)存儲，使您可以在多年后證明決策的合理性
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