Evident向基于顯微鏡的成像系統制造商供應超多規格的物鏡以及其他光學部件,為設備和儀器設計者提供支持。這些組件能幫助工程師們輕松有效地設計高質量的光學檢測設備。
此類設計方案的一個重要組成部分是主動式自動對焦技術。當該技術與顯微鏡的電動Z軸——機械裝置、照明系統、物鏡和/或數碼相機結合使用時,便可實現自動對焦。這些裝置使用主動式方法對焦樣本,讓光學檢測系統設計受益良多。
這篇文章將深入探討主動式自動對焦方法——了解它是什么,比較它與其他方法的優劣,并探究它對于光學檢測設備設計(如半導體檢測)的主要優勢。
顯微鏡的自動對焦方法對比:主動式與被動式
圖2. 半導體樣本聚焦不穩定的原因:(左)焦點位置的變化和(右)階梯邊緣的散射
為了解決這些問題,我們開發了一種使用多個焦點檢測點的主動式自動對焦系統(圖3,右)。我們還增添了一個功能,通過移動自動對焦光學系統的中繼鏡的光軸,將焦點位置偏移到所需的觀察位置。這就消除了焦點不穩定的問題(圖4和圖5)。
圖3. 樣本表面對焦檢測點對比:(左)單點自動對焦系統,(右)多點自動對焦系統
圖4. 焦點位置偏移功能
(a) 在單點系統中,將樣本移到一側會移動焦點位置
(b) 在多點系統中,將同一樣本移到一側不會改變焦點位置
如果您想詳細了解我們的主動式自動對焦產品或將我們的高品質光學組件整合到您的顯微鏡設計中,請聯系我們。
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