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JK-150BPE型半導體冷熱臺 參考價：面議
JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應制冷，配合循環水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內進行控溫，實現樣品在開放式 / 氣...
JK-120BCH半導體冷熱臺 參考價：面議
半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的控溫。結構緊湊，適用于各種變溫測試氣密腔室設計，可通保護氣體多探針...
JK-120BPE型半導體冷熱臺 參考價：面議
半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環水散熱，實現從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點...
JK-600C型變溫電學探針冷熱臺 參考價：面議
探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~60...
JK-600S高溫電學探針熱臺 參考價：面議
探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃范圍內精準控...
JKZC-UTS150型動態應力應變特性測試冷熱臺 參考價：面議
JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-100~50℃ (高溫以實際數...
JK-LS500原位拉伸冷熱臺/高低溫探針臺 參考價：9999
原位拉伸冷熱臺是一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃溫度下材料的...
非標探針臺/微型/光電流測試顯微鏡 參考價：9999
非標探針臺/微型探針臺/倒裝手動測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場探針臺(無磁設計)/110g以上高頻測試探針臺/自動測試系統/可升降平臺/高精度...
探針臺配件/屏蔽箱/防震系統/轉接頭/轉接線 參考價：9999
探針臺配件/屏蔽箱/防震系統/轉接頭/轉接線
探針臺配件/ 12C有源探頭探針座/探針 參考價：9999
探針臺配件/ 12C有源探頭探針座/GGB 12C有源探頭/開爾文探針座/美國APT開爾文探針
探針臺配件/射頻探針座/探針 參考價：9999
探針臺配件/射頻探針座/射頻探針
探針臺配件/直流探針座 參考價：9999
探針臺配件/直流探針座/直流夾具/直流探針
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺 參考價：9999
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。...
JKZC-UC系列高低溫探針臺 參考價：9999
JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面...
JKZC-DSH系列雙面探針臺 參考價：9999
JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對...
JKZC-DM系列基礎型探針臺 參考價：9999
JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗...
提供CNAS計量認證報告高溫電阻率測試儀 參考價：2500000
HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4...
ZKF-2NA型石英真空封口機 參考價：25000
簡要描述：石英管真空封口機 ZKF系列石英管真空封管機系統是由真空封管機+氫氧機+真空泵組成，能夠快速簡易地對石英管抽真空密封，是對石英管真空密封技術的創新。
全新一代梯溫析晶測定儀 參考價：255000
GTC-700梯溫析晶測定儀，梯度爐是具有一定溫度梯度的熱處理爐，將玻璃試樣放在梯溫爐內保溫一定時間，隨后在空氣中冷卻，通過確定析晶位置和對照標準梯溫曲線，測定...
鐵電材料特性測試系統（電壓，電流多功能） 參考價：9999
本測試系統用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業化生產鐵電存儲器的鐵電性能檢測中，本測試系統主要由信號源、高壓電...
材料高低溫電阻率測試儀（-160℃-600℃） 參考價：9999
HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電...
高低溫介電溫譜測量系統(-190℃-1000℃） 參考價：9999
GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介...
TECT-300型材料高低溫熱膨脹測試系統 參考價：9999
TECT-300型材料高低溫熱膨脹測量系統采用LVBWVEIVS新一代處理計算系統，主要應用于檢測固體無機、有機材料、聚合物、高分子材料、金屬/非金屬材料，橡膠...
壓電材料,摩擦納米發電機測試系統 參考價：9999
PDMS-100型壓電材料摩擦納米發電機測試系統利用摩擦起電效應和靜電感應效應的耦合把微小的機械能轉換為電能。這是一種性的技術并具有的輸出性能和優點。它既用不著...
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