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由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
產品簡介
詳細介紹
四探針導體半導體電阻率測量儀 金屬半導體電阻率測量儀 導體半導體金屬薄膜材料電阻測試儀
型號DL-SB100A-2
DL-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改進型。
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
（使用環境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V50Hz，為實驗室環境使用）
SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
lSB118直流電壓電流源：是一臺4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。
lPZ158A直流數字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品PZ158A。
lSB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。