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Metrolux  VIS-NIR 光束質量分析儀

產品簡介

      VIS-NIR 光束質量分析儀可測量激光強度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。

      具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。

    機械部分采用特殊表面細化、光學部分采用光學增透膜把雜散光減小到zui小的優化探測頭。

    VIS/NIR激光光束分析儀 UV激光光束分析儀

       基于激光光束分析儀的“光束檢測”的CCD相機，被優化適合于低輸出功率的連續和脈沖激光器準直光束分析，大部分VIS/NIR波長范圍的激光，可用此系統典型分析，例如Nd:YAG或者半導體激光器通常使用此系統分析。

       光束質量分析儀包含Beamlux II軟件、標準攝像頭及附件如中性密度濾光片組合和可快速建立測量的設備，使用這些可選配件，系統也可用于高功率激光束和焦點直徑小于10µm的測量。

產品特點

    采用ML3743CCD相機的高分辨率光束質量分析儀

    采用可廣泛應用的BeamLux II軟件包

   可通過外觸發TTL測量脈沖激光器

標準版*功能: 

    可遠程控制步進電機

    可通過TCP/IP遠程控制

    通過ML協議的協議文檔

產品參數         基礎版                         標準版

波長：                    320 - 1100 nm              ----

功率：                    <1W                             ---- 

傳感器：                  CCD2/3"                      ----

有效面積：              8.97X6.71mm2             ----

分辨率：                 6.5µm                           ----

軟件：                    基礎版Beamlux II          高級版Beamlux II 

光束類型：             原始發散光                     ----

光斑大?。?nbsp;           60µm-5mm                    ----

接口：                  IEEE1394                         ----

工作距離：            17.5mm                          ----

重量：                   300g                               ----

產品應用

測量光斑大小、發散角、近場、遠場、光束指向穩定性、功率、焦散、均勻性