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產(chǎn)品簡介
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。
詳細(xì)介紹
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀