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了解 XRF 測試中鉛的干擾因素
摘要
XOS 軟件旨在對樣品的基體效應做出準確響應。然而，和任何分析技術一樣，總有一些樣品對 XRF 來說具有特別的挑戰性，一般是由于材料的密度和/或元素的組成。本文件討論了光譜干擾的一般成因，對涉及到檢測和定量測量各種均勻樣品基體中鉛（Pb）含量時所碰到的常見問題做出了回答
是什么原因導致鉛的測量濃度偏高和檢測限（LOD）的增加？
元素干擾可能會導致鉛的測量結果偏高，這是由于激發能出現了重疊問題。這種重疊有可能由以下三種情況中的一種或多種引起：
■ 發射譜線直接重合：例如，砷（As）的 Ka 發射能為10.54 keV，而 Pb的La 發射能幾乎一樣，是10.55 keV。任何和 Pb 發射能接近的元素都有可能造成鉛的測試值偏高。具體請參見第二頁周期表中列出的特征發射值。
■ 疊加峰與發射譜線相重合：當檢測器將兩個或者更多的光子作為一個光子進行計數時，就會出現疊加峰。疊加峰對基體中具有高強度 X發射譜線的主要元素的影響特別明顯。疊加峰可能會和其他元素的發射譜線重合，比如鐵（Fe）疊加峰的數值（12.8 keV)）就和鉛的Lß（12.61 keV）發射譜線出現了重合。
■ 在特定條件下的發射譜線干擾：有些發射譜線的干擾只有在某種元素的濃度特別高時才會發生。主要元素的能量分布值過高，會小幅提高相鄰元素的檢出限。
在塑料基底中是否有內在的鉛干擾因素？
聚合物內沒有內在的干擾因素，因為其大部分的組成成分是有機的，而 XRF 檢測對有機部分沒有響應。聚合物的基底干擾可能來自于基底中的其他元素，這些元素的特性已經在上一節中做了說明。通常，聚合物基底中 Pb 的主要干擾因素是高濃度的溴（Br）或鉍（Bi），如圖1 所示。
在金屬基底中是否有內在的鉛干擾因素？
含有 As的 Fe 樣品會增加Pb 的LOD，并可能導致測量結果出現錯誤，因為Fe的疊加峰的存在，還有 As的發射譜線出現了直接重合，如圖2 所示。如果 Fe基底選用的是含有大量鉻（Cr）的不銹鋼，那么會進一步提高鉛的 LOD，這是因為由于 Cr也有疊加峰，還有As的Kß 發射譜線和Fe 的重合了。
XOS檢測儀，產品主要用于石油、工業和市政廢水以及土壤中的重金屬檢測，包括硫，鉛，砷，鎘，鋅等多達幾十種元素，無論是單一元素還是多元素檢測，客戶只需一鍵操作就能獲得的測量結果，分析快速。分析儀無需試劑和化學消耗品以及樣品預處理，方便快捷。
