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產品簡介
詳細介紹
該系統可以測量半導體材料或其他發光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些復合薄膜等)在激光激發下的光致發光譜，進而分析材料能帶等特征，是材料研究和半導體研究*的測試設備。
技術指標
- 光譜范圍：200-2500nm (可根據實際需要選擇）
- 波長準確度：±0.2nm
- 光譜分辨率：±0.1nm
- 光譜帶寬：0.2-10nm 可調
- 光源波長：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2016-05-13 15:45:35瀏覽次數：892
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該系統可以測量半導體材料或其他發光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些復合薄膜等)在激光激發下的光致發光譜，進而分析材料能帶等特征，是材料研究和半導體研究*的測試設備。
技術指標