前言：（老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗(yàn)室）

基于中國(guó)幅員遼闊，地域面積廣闊，資源不均衡，導(dǎo)致目前我國(guó)輸電線路及聯(lián)網(wǎng)（并網(wǎng)），需要跨區(qū)域、遠(yuǎn)距離的傳輸；所以超高壓直流輸電事業(yè)的發(fā)展也異常的迅速。隨著近年來(lái)輸電線路電壓等級(jí)的不斷提高，直流絕緣子的老化問(wèn)題日趨嚴(yán)峻。

直流絕緣子在在電力系統(tǒng)中應(yīng)用很廣泛，尤其在直流輸電工程中的應(yīng)用。用于支持帶電導(dǎo)體并使其絕緣的電器元件。一般由絕緣件(如瓷件)和金屬附件(如鋼腳、鐵帽、法蘭等)用膠合劑膠合或機(jī)械卡裝而成。屬于外絕緣,在大氣條件下工作。架空輸電線路、發(fā)電廠和變電所的母線和各種電氣設(shè)備的外部帶電導(dǎo)體均須用絕緣子支持，并使之與大地（或接地物）或其他有電位差的導(dǎo)體絕緣。由于其工作環(huán)境一直處于大氣條件，那么絕緣子本身的耐氣候老化性能也就成了電力部門(mén)非常關(guān)心的重點(diǎn)問(wèn)題。長(zhǎng)期老化性能的優(yōu)劣與運(yùn)行條件（如電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力、大氣自然環(huán)境溫濕度、紫外、臭氧）以及絕緣子內(nèi)在材質(zhì)有很大關(guān)系。在模擬絕緣子實(shí)際工作環(huán)境下的老化性能綜合試驗(yàn)方面主要包括：大氣環(huán)境的污垢（防塵試驗(yàn)）、降雨（淋雨試驗(yàn)）、太陽(yáng)輻射（光照老化試驗(yàn)）、放電（局放試驗(yàn)）、高溫高濕（高低溫交變濕熱試驗(yàn)）、大氣中腐蝕性成分老化（復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)）等。絕緣子綜合耐候老化房綜合解決上述問(wèn)題。

對(duì)于瓷絕緣子材質(zhì)在直流電壓下的老化成因，有人認(rèn)為，瓷質(zhì)中的堿金屬離子，特別是Na’離子在遷移過(guò)程中由于獲得電子而形成體積比離子體積大兩倍的原子，局部膨脹應(yīng)力致使絕緣子破裂(主要出現(xiàn)在絕緣子頭部);另外一種觀點(diǎn)認(rèn)為.離子遷移造成了瓷件內(nèi)部電阻率不同的導(dǎo)電層，導(dǎo)致不均勻的電場(chǎng)分布，長(zhǎng)時(shí)間作用后而出現(xiàn)擊其穿。為了驗(yàn)證其在運(yùn)行狀態(tài)下的老化成因，電氣制造商必須對(duì)其進(jìn)行自然大氣環(huán)境中的工作狀態(tài)的一種模擬測(cè)試。

絕緣子綜合耐候老化房滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T 16927.1-2011  高電壓試驗(yàn)技術(shù) *部分：一般試驗(yàn)要求

2. IEC 60-1：1989

3. GB/T11158-2006高溫箱技術(shù)條件

4.    4.GB/T 19443-2004    標(biāo)稱(chēng)電壓高于1000V的架空線路用絕緣子-直流系統(tǒng)用瓷或玻璃絕緣子元件-定義、試驗(yàn)方法和接收準(zhǔn)則

5. 5.IEC 61325:1995, MOD

主要技術(shù)參數(shù)

• 型號(hào)：　ZWS－28型    

• 恒溫箱內(nèi)部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

• 溫度范圍：   RT+10℃～200℃

• 溫度均勻度：   ≤ 5℃  （200℃內(nèi)，空載時(shí)）

• 溫度波動(dòng)度：   ±0.5℃ （空載時(shí)）

• 溫度偏差：   ≤±2℃

• 時(shí)間設(shè)定范圍：   0～9999 小時(shí)、分鐘、秒

• 數(shù)量：2套

• 直流高壓產(chǎn)生測(cè)量系統(tǒng)：

輸出電壓：     0~+300kV  DC

電壓測(cè)量精度： △≤1%

  電壓脈動(dòng)系數(shù)： δ≤1.5~3%

很大負(fù)載電流： Imax=100mA

電流測(cè)量精度： δ≤1%（注：總電流）

連續(xù)運(yùn)行時(shí)間： T≥180天

• 絕緣子離子遷移測(cè)量系統(tǒng)

被測(cè)試品數(shù)量：   N≥54只    （H=300mm Φ=320~600mm）

體電阻測(cè)量：     R≥1010Ω    測(cè)量精度≤±3%

遷移電荷量測(cè)量： Q∶0～5C     測(cè)量精度≤±1%

溫度測(cè)量范圍：   室溫~200℃  測(cè)量精度≤±1℃

 溫度控制的穩(wěn)定性和均勻性偏差：±3~5℃

• 熱電破壞試驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)：

 試品數(shù)量：      N=56只         （H=300mm Φ=320~600mm）

  體電流測(cè)量：    0.001μA~1mA     測(cè)量精度≤±2%

 溫度測(cè)量范圍：  室溫~200℃        測(cè)量精度≤±1℃

  溫度控制的穩(wěn)定性和均勻性偏差：±3~5℃