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以色列DUMA公司近期研制出一款高功率激光采樣器,通過壓縮空氣降溫的原理來實現冷卻。該采樣器可以提供1.1×10-5的采樣效率,相比于衰減片(ND)而言,效率更高,且適用于多種場合。該采樣器可以與現有光束質量分析儀相匹配,出廠即完成裝配,可以滿足用戶對于高功率激光的檢測,對于連續激光,最高可承受4KW的功率。
大功率激光光束質量的測量一直是激光行業的一個難點和痛點。無論是CMOS/CCD傳感器還是刀口式檢測原理,都無法承受大功率激光的直接接收,因為CMOS傳感器或者CCD傳感器的靈敏度都很高,僅可以承受到微瓦到毫瓦的功率范圍,這使得大功率激光無法實現直接檢測,這會導致因激光功率過高而直接損壞傳感器,哪怕使用衰減片(ND)仍無法滿足,甚至需要配合多個衰減片進行一個整體組合后才可使用,這會使得激光整體模式受到不可估計的影響。
我司為用戶提供兩種系列光束質量分析儀,LAM和M2-Beam,其中LAM可用于檢測工作面上的聚焦激光,其檢測原理為刀口式測量原理,僅可檢測連續激光(CW),M2-Beam的普通型號同樣采取刀口式測量原理。當然,為了滿足用戶對于脈沖激光(Pulsed)的檢測需求,我們也提供CMOS傳感器版本(-U3型號)。
以上機型均可安裝高功率激光采樣器,SAM-HP-M。需要注意的是,在測量大功率激光時,連續曝光時間不能超過5s。并且高功率機型出廠后,風冷采樣器處于已裝配狀態,原則上講我們不提倡用戶將其拆卸,因為其中涉及到接收對準和安裝工藝問題,這會導致拆卸后無法安裝的問題存在,基于更小的靈敏度,儀器哪怕裝載了風冷采樣器,對于小功率激光仍具備一定的探測能力。
LAM大功率激光光束質量分析儀產品規格參數:
M2-Beam 大功率光束分析儀產品規格:
-輸入光束
-掃描裝配附件
-整機
大功率光束分析儀的核心部件——高功率激光采樣器規格參數:
高功率光束分析儀訂購型號及描述:
LAM-BA: 7-blades, Si detector with high power attenuator and mounting adapter
LAM-U3: A camera for 350 –1310 nm with motorized built-in filter wheel with high power attenuator and mounting adaptor, a set of interchangeable filters,
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams
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