當前位置:深圳維爾克斯光電有限公司>>光學儀器>>光束分析儀>> uBeamDuma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 0-5萬 |
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應用領域 | 綜合 |
激光聚焦光斑由于尺寸小,光斑能量非常集中,功率密度超高而不好測量。DUMA通過加配物鏡的方法把光斑放大10X~100X,一方面擴大了光斑尺寸,另一方面減小了功率密度,從而使聚焦光斑的測試有了可能。
uBeam是微米級光斑測試儀,能夠測量連續激光或脈沖激光,實時顯示亞微米范圍內的激光特性,例如激光聚焦光斑或整形后的平頂光斑。配合配SAM3-HP光束取樣器,μBeam甚至可以測量幾百瓦激光器的聚焦光斑。μBeam最小的有效像素為0.04μm,能夠測量的最小光斑大概在0.5μm。Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀
uBeam光斑分析儀規格參數
uBeam微米級光斑分析儀的主要特點和功能包括:
測量小于0.5µm光束(FWHM)
高分辨率CCD(80萬像素),CCD面積3.2x2.4mm,像素~4x4μm,波長范圍350~1310nm
µBeam-X-USB2.0 相機,USB2.0接口,物鏡,軟件
µBeam-X-SA 相機,顯示模塊,物鏡,軟件X
x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡,有效像素最小0.04x0.04um
長工作距離、光學變焦。
uBeam微米級光斑分析儀的訂貨型號
Model µBeam-X-USB 2.0: 完整的聚焦光斑系統,x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡
Model µBeam-X-SA:
X (Objective magnification) : x10,x20,x50,x100
Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀
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