10
當前位置：> 供求商機> SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環境中實現超高分辨率的觀察，還*實現了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀察。 |  |
●采用FM(頻率調制)方式 以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調制）方式，而FM（頻率調制）方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現更高的分辨率。 SPM：Scanning Probe Microseope |  |
液體中原子分辨率觀察
 | 圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒在噪聲中的原子通過FM方式（右）則可以清晰地觀察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察
 | TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進行表面電勢的測定。可以觀察到數nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區域是正電勢，藍色□區域是負電勢?？梢妼τ贙PFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。 ＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。 |
<引用文獻>
| 1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
