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島津應用：印刷電路板的缺陷分析
印刷電路板上的異物和斑點等會造成導電故障，為了防止此類問題的發生，查明異物和斑點的來源極為重要。本文向您介紹使用島津AIM-9000缺陷自動分析系統，對印刷電路板上的異物進行定性分析的示例。
microSDTM卡的大視野相機觀察圖像
對在microSDTM卡端子上的異物進行掃描和定性分析時，使用AIM-9000的大視野相機，可以順利完成從大視野觀察到確定掃描位置的一系列操作。另外，根據異物形狀分別使用反射法和ATR 法，可以得到良好的光譜。
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