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湘潭湘儀儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 導(dǎo)熱系數(shù)儀,高低溫?zé)崤蛎泝x,陶瓷檢測(cè)儀器 |
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| DRE系列瞬態(tài)導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） |
 DRE系列導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） 本系列導(dǎo)熱儀采用瞬態(tài)平面熱源法，本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀。Hot Disk法的優(yōu)點(diǎn)有：（1）直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間；（2）不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；（3）無(wú)須特別的樣品制備，對(duì)固態(tài)材料只需相對(duì)平整的樣品表面。具有測(cè)量速度快、適用范圍寬以及能夠成功避免在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中自然對(duì)流的影響等優(yōu)點(diǎn)，是目前比較流行的測(cè)試方法。設(shè)備參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2 2008。 主要測(cè)量固體、粉末、液體、糊狀、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴(kuò)散系數(shù)）和比熱。 1、整機(jī)技術(shù)指標(biāo) 1.1 試樣尺寸：塊狀或圓柱形樣本，無(wú)須特別的樣品制備，只需相對(duì)平整的樣品表面,對(duì)粉狀、糊狀、液狀物質(zhì)無(wú)特殊要求。 1.2 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.005~500 W/mK； 1.3 熱擴(kuò)散系數(shù)（導(dǎo)溫系數(shù)）：0.1~100mm2/s 1.4 測(cè)量溫度范圍：室溫～120℃； 1.5 溫度測(cè)量精度：≤0.001℃； 1.6 測(cè)量相對(duì)誤差：≤3%； 1.7 重復(fù)性誤差：≤ 3%； 1.8 測(cè)量時(shí)間：20~160 秒 1.9 試樣環(huán)境溫度范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置：室溫，（可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段或真空狀態(tài)下的測(cè)試狀態(tài)） 1.10 采用全自動(dòng)測(cè)試軟件，快速準(zhǔn)確對(duì)樣品進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程參數(shù)分析和報(bào)告輸出。 1.11 可配接不同的測(cè)試頭滿足各種環(huán)境下多種狀態(tài)物質(zhì)的檢測(cè)。 1.12 電源：AC 220V±10%；50/60 Hz,整機(jī)功率：﹤500w 2. 探頭技術(shù)指標(biāo) 2.1 加熱材料：金屬鎳 2.2 使用溫度：-50~150℃ 2.3 zui大功率：20w 2.4 zui大電壓：20V 2.5 zui大電流：1A 2.6 電阻：10Ω左右，依探頭上標(biāo)注阻值為準(zhǔn) 2.7 鎳絲規(guī)格：厚度0.1mm,熱絲寬度：0.35±0.03mm；熱絲間距：0.35±0.03mm 2.8 保護(hù)層材料：聚酰亞胺薄膜（Kapton）；單層厚度：0.06mm 2.9 探頭直徑：15mm 2.10 探頭總厚度（包括粘結(jié)層厚度）0.16±0.02mm。 |
