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Nanonics近場掃描光學顯微鏡（Nanonics－NSOM）

參考價格：面議　　產地：其他國家

近場掃描光學顯微鏡技術參數:

1、掃描方式：針尖掃描

2、分辨率： XY方向＜5nm、Z方向＜1nm

3、掃描范圍: XY方向70um、Z方向70－120um，另外有30um和10um掃描器選配

4、掃描步進：70um掃描器＜1nm、10um掃描器＜0.1nm

5、掃描器厚度：7mm；重量：75克

6、zui大樣品尺寸：半徑16mm，另根據客戶需求可以選配任何合理尺寸；

＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊探針＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊

近場掃描光學顯微鏡zui大特點：所有的商業化的探針均適用于當前的Nanonics NSOM操作

※NSOM探針
※AFM探針
※研究超低彈性模量的AFM探針
※于深溝的AFM探針
※中空的AFM探針
※玻璃絕緣的AFM傳感納米線
※雙線玻璃絕緣探針
※普通模式SPM探針

＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊近場掃描光學顯微鏡操作模式＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊

※NSOM反射模式
※NSOM透射模式
※NSOM收集模式和收集暫時場模式
※NSOM熒光模式
※NSOM-PL模式
※三維共聚焦成像（透射、反射、熒光）
※非接觸式NSOM、液體（生物樣品）NSOM

＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊Nanonics Analog控制器＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊

※軟件包-NT,Win95/98,XP兼容；
※實時圖像顯示，圖像獲取（高達8通道）及分析，3D處理；
※LabVIEW軟件包擁有4通道的數據采集功能；

近場掃描光學顯微鏡主要特點:
＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊應用范圍寬＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊

1、表面和材料科學
微納米結構表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相關評估、軟性材料的彈性和硬度測試

2、生物應用
液體中完整活細胞成像、細胞膜孔隙率和結構表征

3、薄膜表征
孔隙率分析、覆蓋率、附著力、磨損特性、納米顆粒、島嶼分布

4、硬盤檢查
表面檢查和缺陷鑒定、磁疇成像、摩擦力和磨損方式和讀寫頭表征

5、半導體制造中的測試
高分辨率地定量結構分析以及摻雜濃度的分布等各種材料特征

6、失效分析
缺陷識別、電性測量和鍵合電極大摩擦特性等

＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊測試*＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊

1、測試環境控制NSOM，至液氦溫區和超高真空度

2、環境控制操作與光學顯微鏡、微拉曼等*兼容

3、*的電學及熱學測量

近場掃描光學顯微鏡介紹 :

NANONICS IMAGING LTD. （以色列NANONICS有限公司）是業界將近場光學顯微鏡(NSOM)技術和原子力顯微鏡(AFM)相技術相結合的*。公司成立于1997年，NANONICS是業界成立zui久并且對此類系列產品經驗zui豐富的公司之一，其產品榮獲過許多大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作系統的推動下，今天NANONICS繼續以強大的優勢和全面的系統著市場。NANONICS憑借著實力和品質，其產品涉足的領域從科研到工業，從生物學到半導體，從化學制品到無線電通訊，應用范圍極其廣泛。

低溫NSOM/AFM擁有良好的系統設備、環境友好的樣品反應室、化學藥品和氣體自動傳送系統；還有nano-印刷術系統，給消費者提供一個*的系統配置選擇。加上有AFM/NSOM/SEM的整合與AFM/NSOM/micro-Raman的整合系統這樣強大的成象結合，可以讓用戶擁有*的實驗平臺來完成所有的材料表征應用。探針包括NSOM探針，micro-pipettes是檢測熱、電性能的，同時探針還可以提供氣體和液體加樣，這是Nanonics系列產品*的功能，可以為提供用戶在很小的范圍內做原位反應等。NAONICS系統兼容可所有供應商提供的SPM探針。

Nanonics儀器設計的特點就是將不同的表征手段整合到一個平臺，包括spm、微拉曼光譜、電鏡、共聚焦顯微鏡、離子束、熱分析、SHG等等都能實時或一起使用。For the first time ever, Nanonics Imaging Ltd. in its drive for integrated microscopic solutions has now been able to fully and transparently integrate these two worlds.

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