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FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252
高性能X射線熒光測量儀，配有的硅漂移探測器（SDD），可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
產品簡介
詳細介紹
FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN? 250/252、XDL?、XDV?-SDD
FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 250/252
高性能X射線熒光測量儀，配有的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
高性能機型，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位
典型應用領域
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域
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FISCHERSCOPE? XDL?
X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規模生產零部件
XDL鍍層厚度測量儀特點
堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
固定光圈和固定濾光鏡
用于1mm起大小的測量點
底部C型開槽的大容量測量艙
可編程的臺式設備，用于自動測量
標準X射線管，比例計數器
XDL鍍層厚度測量儀典型應用領域
測量大規模生產的電鍍零件
防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻。鉻層測厚、銅厚測量
電鍍工業中電鍍液的分析
黃金、珠寶和鐘表工業
FISCHERSCOPE? XDV?-SDD
高性能X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點
高級型號儀器，具有常見的所有功能
射線激發量的靈活性zui大，激發量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數率） 的超高信號量下也可以正常工作，而不會出現能量分辨率的降低
極低的檢測下限和出色的測量重復度
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
大容量便于操作的測量艙
典型應用領域
測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業中
痕量分析，例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
進行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產業
測量 NiP 鍍層的厚度和成分