手持式光譜儀用鍍鉻厚度標(biāo)準(zhǔn)片
手持式光譜儀用鍍鉻厚度標(biāo)準(zhǔn)片是通過(guò)濺射或電鍍方法將高純度鉻沉積在基材上。是用于校準(zhǔn)便攜式手持XRF設(shè)備，以測(cè)量基材上鍍鉻的產(chǎn)品。手持式光譜儀用厚度標(biāo)準(zhǔn)片是堅(jiān)固不易彎曲的材料，安裝在帶有十字線的陽(yáng)極氧化鋁板上，以方便手持XRF儀器的定位和校準(zhǔn)。

銅上鍍鉻厚度標(biāo)準(zhǔn)片 Cr/Cu (Chromium/Copper) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Cr/Cu，理論厚度：60微英寸（1.5微米）
Cr/Cu，理論厚度：80微英寸（2微米）
Cr/Cu，理論厚度：200微英寸（5微米）
Cr/Cu，理論厚度：400微英寸（10微米）
Cr/Cu，理論厚度：600微英寸（15微米）
Cr/Cu，理論厚度：1000微英寸（25微米）

鐵上鍍鉻厚度標(biāo)準(zhǔn)片 Cr/Fe (Chromium/Iron) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Cr/Fe，理論厚度：80微英寸（2微米）
Cr/Fe，理論厚度：150微英寸（3.75微米）
Cr/Fe，理論厚度：500微英寸（12.5微米）
Cr/Fe，理論厚度：600微英寸（15微米）
Cr/Fe，理論厚度：800微英寸（20微米）

以上為常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，請(qǐng)聯(lián)系上海益朗儀器有限公司

關(guān)于“理論厚度”：實(shí)際到貨值會(huì)在理論厚度的附近。實(shí)際值會(huì)控制在±15%偏差范圍內(nèi)。

由于箔片太脆弱而無(wú)法與手持式光譜儀一起使用，因此鍍鉻厚度標(biāo)準(zhǔn)片以*的方式包裝，以便與手持式光譜儀一起使用。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)允許用戶在有或沒(méi)有視頻成像的情況下瞄準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，以便校準(zhǔn)便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測(cè)試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。

上海益朗儀器有限公司專業(yè)銷售臺(tái)式XRF/手持式XRF、電解測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀用的厚度標(biāo)準(zhǔn)片。如果本頁(yè)產(chǎn)品不在您的選型范圍內(nèi)，請(qǐng)務(wù)必聯(lián)系我們獲取更多推薦。