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光電關聯顯微技術（Correlative Light and Electron Microscopy; CLEM）是一種結合熒光顯微鏡成像與電子顯微鏡成像相關的分析方法。通過使用光學顯微鏡和電子顯微鏡觀察同一樹脂包埋超薄切片，可分析細胞內的細胞器、分子的定位和形態。該方法可確保高相關性（除電子束和熒光波長不同導致的差異外），還可提高熒光信號的 Z 軸分辨率。

在傳統的CLEM法中，由于熒光淬滅的原因，難以對同一切片進行光學顯微鏡和電子顯微鏡觀察。

本次研討會將介紹一種創新技術——In-resin CLEM。在該技術的支持下，可同時使用熒光顯微鏡和電子顯微鏡對同一切片進行觀察。除了介紹In-resin CLEM的原理和應用之外，還將介紹In-resin CLEM的最新應用，如使用抗體的Immuno-in-resin CLEM。

免費報名鏈接：v2.nex-pro.com/campaign/60340/apply

◆會議概要

主題：In-resin CLEM的研究進展：從培養細胞到中樞神經組織中的神經膠質細胞

日期：2023年11月9日（周四）

時間：7:00 a.m. PST / 10:00 a.m. EST/ 15:00 GMT /16:00 CET /23:00 CST /24:00 JST

時長：35分鐘

演講人：順天堂大學研究生院 醫學研究科 老年病病理學治療研究中心

資深副教授 谷田以誠博士

報名費用：免費

◆CLEM用熒光恢復試劑

通過組合使用CLEM用熒光恢復試劑TUK Solution for multicolor與特定的熒光蛋白質（CLEM-Red, CLEM-Green），可恢復被氧化鋨淬滅的樣品熒光。熒光恢復后可同時使用光學顯微鏡和電子顯微鏡對同一切片進行觀察，實現更為精確的CLEM（需使用HB Solution清洗液進行清洗）。

數據提供：順天堂大學研究生院醫學研究科 神經疾病病理結構學

內山安男老師 谷田以誠老師

◆CLEM用熒光恢復試劑、清洗試劑

◆CLEM用載體