EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環境、儀器設備等因素引進了諸多測量誤差，為確保測量結果的準確可靠，有必要對其進行不確定度分析。
本產品能同時測量磁性基材表面（如鋼和鐵）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電鍍涂層（如油漆等）。本儀表內置高精密一體化探頭，同時運用電磁感應和渦流效應兩種原理，自動檢測基材屬性并探測涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結果。同時，測量數據可分組保存，并實時顯示統計值。用戶可分別為每組設置上下限報警值、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
塑料制品工業鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。
EXF鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機*的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
EXF鍍層測厚儀能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。
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