-
多波長橢偏儀
多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...
型號： Film Sens...
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:39:05
對比
測量儀器測量設備多波長橢偏儀報價多功能橢偏儀供應多功能橢偏儀
-
智能型多功能橢偏儀
智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，準確表征和分析的工具。 多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。
型號： Smart SE
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:37:25
對比
測量儀器測量設備自動多功能橢偏儀多功能橢偏儀價格供應多功能橢偏儀
-
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀：實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:35:16
對比
錨桿質量檢測系統薄膜缺陷檢測儀器薄膜缺陷檢測設備薄膜缺陷檢測儀價格供應薄膜缺陷檢測儀
-
F3-sX薄膜厚度測量儀
F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:33:23
對比
供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
-
薄膜厚度測量儀
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實時攝像頭，可以精確監控膜厚測量點。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測...
型號： F54-XYT-3...
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:31:39
對比
供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
-
F54-XY-200薄膜厚度測量儀
F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:29:21
對比
供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
-
HS華山系列被動式減震臺
HS華山系列被動式減震臺采用：半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面（同OTP臺面）的氣浮隔振光學平臺，整體高度800mm，分為氣浮式支架和臺面兩部分。
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:26:55
對比
自動式減震臺被動式減震設備被動式減震系統被動式減震臺報價精密防震工作臺
-
GS岡山系列被動式減震臺
GS岡山系列被動式減震臺是整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面 (同OTP 臺面)的標準雙頻阻尼被動式隔振平 臺，整體高度800mm，分為氣浮式支架和臺面 兩部分。
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:25:08
對比
自動式減震臺被動式減震設備被動式減震系統被動式減震臺報價精密防震工作臺
-
AVI-200系列 精密防震工作臺
AVI-200系列 精密防震工作臺適合對升級和整合到現有的需要低頻隔振功能的設備.AVI-200 WOKSTATION這款設備允許在一定的大小范圍內增設額外的模...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:22:59
對比
自動式減震臺精密防震設備精密防震系統精密防震工作臺報價供應精密防震工作臺
-
AVI400系列 主動式減震系統
AVI400系列 主動式減震系統：Table Stable在減震行業內有著相當豐富的經驗。于此同時Table Stable測量技術也取得了很大的進步，一些靈敏度...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:21:14
對比
自動式減震臺自動式減震設備主動式減震臺主動式減震系統報價供應主動式減震系統
-
MINI450F主動式減震臺
MINI450F主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果，同時沒有共振，LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示。
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:18:54
對比
自動式減震臺自動式減震設備主動式減震系統主動式減震報價供應主動式減震
-
KLA iNano 納米壓痕儀
KLA iNano 納米壓痕儀：iNano為壓痕、硬度、劃痕測試和多元化納米級測試等納米級力學測試設計。iNano能夠測試包括軟質高聚物到硬質涂層和薄膜等在內的...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:17:11
對比
供應納米壓痕儀納米壓痕測量儀納米壓痕測量系統納米壓痕儀報價電阻率測量裝置
-
Profilm3D光學輪廓儀
Profilm3D光學輪廓儀使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術。以低價格實現次納米級的表面形貌研究。
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:15:31
對比
測量系統供應輪廓儀測量儀3D光學輪廓裝置3D光學輪廓設備
-
KLA探針式臺階儀P-7
KLA探針式臺階儀P-7：P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:13:24
對比
測量儀器測量儀供應探針式臺階儀探針式臺階儀報價P-7探針式臺階儀測速探針
-
F50薄膜厚度測量儀
F50薄膜厚度測量儀：依靠F50的光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:11:08
對比
供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
-
Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀
Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:09:37
對比
錨桿質量檢測系統薄膜缺陷檢測儀器薄膜缺陷檢測設備薄膜缺陷檢測儀價格供應薄膜缺陷檢測儀
-
電阻率測量儀
電阻率測量儀是KLA薄膜電阻和導電率測繪系統。從半導體制造到實現可穿戴技術所需的柔性電子產品，薄膜電阻監控對于任何使用導電薄膜的行業都比較重要。
型號： SD54
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:07:10
對比
供應電阻率測量儀薄膜厚度測量設備測量特性分析測量儀電阻率測量儀報價電阻率測量裝置
-
薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量儀薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學常數、均勻性、刻蝕量等；薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣。
型號： SD20
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:05:20
對比
精簡薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量設備測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價供應薄膜厚度測量儀
-
多功能智能充電柜
多功能智能充電柜是一款多功能智能設備，旨在為用戶提供更便捷更安全的充電服務。它融合了安全、便利和智能化的特點,是為多設備、大功率設備充電的優秀工具，本充電柜外觀...
型號：
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 11:01:56
對比
多功能智能充電柜報價供應多功能智能充電柜多功能智能柜多功能智能裝置風洞項目方案
-
風速風量變送器
風速風量變送器外殼為阻燃耐腐材質，基于皮托管測速原理，測量時所需氣體量極少，即使在惡劣和有少量粉塵的環境中性能同樣可 靠，相比傳統的熱膜式，可獲得更高的可靠性和...
型號： PD8000
所在地：北京市
參考價：
面議更新時間：2024/11/20 10:59:28
對比
風壓風速風量儀皮托管型風速（風量）變送器高溫型變送器供應風速風量變送器風速風量儀
