薄膜厚度測量儀在線測量的解決方案

使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本兩個位置）。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產裝置上。

包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下，它預裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實現。通過測量樣品的光學常數或從現有的來源輸入數據，可以快速添加新材料。

薄膜厚度測量儀附加特性

•             嵌入式在線診斷方式

•             免費離線分析軟件

•             精細的歷史數據功能，幫助用戶有效地存儲，重現與繪制測試結果