低損耗光學元件的反射率和透射率的確定
1）通過腔衰減時間測量，可以非常地測量反射率值R> 99％，透射率值T> 99％的低損耗光學元件。 與光譜儀中的測量相比，該方法有三個主要優點：
2）適用于非常高的反射率和透射率
3）不可能獲得高于實際值的測量值
4）它具有非常高的精度
基本CRD測量設置
Layertec配有各種腔體環形系統，可以穩定地控制光學元件的質量。 有關更多詳細信息，請參閱我們的目錄內容“低損耗光學和腔體衰減時間測量簡介”。
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相位優化fs激光寬帶鏡 - CRD測量示例
低損耗鏡 - CRD測量示例 
車鏡 - 寬帶CRD測量示例 
薄膜偏振器 - CRD測量示例 
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