Ionscope掃描離子電導顯微鏡---納米觀測與功能研究平臺

Scanning Ion Conductance Microscopy

掃描離子電導顯微鏡---納米觀測與功能研究平臺

          關于Ionscope

Ionscope 公司總部位于英國劍橋，是世界范圍內掃描離子電導顯微鏡（Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)）的制造商。掃描離子電導顯微鏡是一個快速發展的掃描探針顯微鏡技術，這一技術能對柔軟和精細的表面進行納米尺度的形貌成像、 應用和功能研究。

掃描離子電導顯微鏡是一個具有多應用功能的平臺，能為生命科學和材料科學提供新 的研究方法和發現。通過掃描離子電導顯微鏡提供的納米級形貌和生理學信息的結合， 神經和心臟學研究人員使用掃描離子電導顯微鏡獲得了疾病和治療過程中的重要生理 功能信息。材料學研究人員使用掃描離子電導顯微鏡也獲取了電池電極表面充放電過 程中納米維度的變化信息。

掃描離子電導顯微鏡的非損傷成像數據改進了很多其他顯微鏡損傷成像方式獲得的數 據，并揭示很多新的特性。使用掃描離子電導顯微鏡，可以從觀測物表面抽取或投放 材料實現 jingque 刺激和單細胞分析。掃描離子電導顯微鏡還可在不干擾觀測物表面的前 提下，定位多種電極和探針，完成物理或電化學微納加工和掃描電化學顯微鏡等更高 級的操作與應用。

依托帝國理工大學和劍橋大學的研發項目，Ionscope公司于2004年成立。Ionscope公 司的掃描電化學顯微鏡在亞洲、北美洲和歐洲等地得到廣泛使用，已經幫助研究人員取得了很多原創性發現！

          納米尺度成像

新一代掃描離子電導顯微鏡觀測樣品制備簡單，可對多種樣品進行無損傷觀測：

•  活細胞和組織

•  多種人工樣品

測量

掃描離子電導顯微鏡*的負反饋機制能對柔軟和微小結構進行觀測，幫助探索：

•  形態變化

•  生理過程

•  表面化學

定位

Ionscope掃描離子電導顯微鏡能將掃描探針在3D表面進行定位，獲取高精度圖像，完成：

•  光學觀測

•  生理學過程觀測與測量

•  表面化學測量

          掃描離子電導顯微鏡成像原理

掃描離子電導顯微鏡通過懸于觀測樣品表面并同時記錄離子電流的玻璃納米掃描探針獲取拓撲圖像。當探針逼近觀測表面時，離子電流降低；當離子電流降低到預設的數值時，系統記錄下Z軸的坐標數據。

系統特性

•  XYZ軸向納米級定位自動掃描

•  多種掃描模式和探針控制:跳躍模式 、逼近曲線、手動探針逼近

•  輔助輸入: 允許同時記錄外部測量數據

•  支持定制軟件和開發

高級應用

•  精準膜片鉗

•  SICM-SECM聯用

•  共聚焦聯用

•  定點投放和取樣

•  機械模擬

70% 掃描離子電導顯微鏡的相關論文使用Ionscope 公司產品或技術

•  2004年，依靠帝國理工大學和劍橋大學自 1997年就開始開發的產品與技術，

Ionscope 公司成立

•  有10余年掃描離子電導顯微鏡開發和客戶支持的經驗

  高分辨率拓撲成像

•  溶液中活細胞/微小樣品的形貌成像

•  高分辨率、非接觸、無損觀測

   精準膜片鉗

•  目標區域微探針的 jingque 定位

•  不透明樣品、可對微小結構進行膜片操作、更高的膜片鉗操作成功率

   掃描電化學池顯微鏡 Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)

•  微探針尖頭半月形掃描

•  納米結構的多維電化學成像

     機械模擬

•  掃描過程中施加正壓

•  研究活細胞的機械敏感性

   SICM-Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)

•  依靠SICM的負反饋機制控制探針和樣品間的距離

•  圓環或雙桶型掃描電化學顯微鏡電極測量微區電化學特性

•  在材料科學和生命科學領域研究拓撲結構和電化學特性的相關性

微區取樣和物質投放

•  將材料(如熒光探針）投放到細胞特定區域或要求的結構處

•  對樣品 小損害的快速投放（如向細胞）

•  單細胞的取樣

•  微納活檢, 微納加工

系統概述

掃描離子電導顯微鏡（Scanning Ion Conductance Microscope (SICM)） 是一種*的納米尺度成像系統。它由掃描頭、控制器和數據獲取系統組成。 Ionscope掃描離子電導顯微鏡優異的機械設計保證系統的精準測量。掃描離子電導顯微鏡可以單獨使用也與倒置光學顯微鏡

（或激光共聚焦顯微鏡）聯合使用。掃描離子電導顯微鏡的操作軟件提供多種模式和包含多 種系統功能，如探針的自動浸潤、表面檢測、實時電流顯示、實時2維和3維圖像數據顯示。

掃描頭

•  超大定位和掃描范圍

•  納米分辨率和 jingque 定位

•  低噪音系統

•  探針和樣品制備、實驗操作簡便

•  適用多種倒置顯微鏡

控制器

•  更多靈活性的OpenIOLabs平臺

•  界面控制和反饋信號

•  FPGA為探針定位和電流檢測提供高級信號加工

•  輔助信號輸入允許外部設備信號與電流和微探針位置同步顯示

軟件

•  基于網頁的用戶界面可實現遠程操縱，界面友好，參數設定、儀器控制、測量操作簡便，數據和系統顯示簡潔清晰

•  數據庫帶有搜索功能

•  動態2維和3維圖像顯示

•  可進行跳躍模式掃描、自動逼近曲線和手動逼近曲線操作