德國斯派克X熒光光譜儀 參考價：面議
德國斯派克X熒光光譜儀采用與斯派克公司高性能實驗室用臺式熒光光譜儀相同的小型低能量的X射線管，保證了準確的離子激發效果。特殊開發的SDD檢測器，數據采集速度10...
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術參數 參考價：面議
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術參數內部采用高性能部件，可獲得好的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包...
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
40 多年來，Rigaku Simultix 同步波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀系統已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業（例如鋼鐵和水泥）過程控...
波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質成分的儀器。它利用X射線的特性來測量樣品中的元素含量。
能量色散小焦點X射線熒光光譜儀 參考價：面議
能量色散小焦點X射線熒光光譜儀采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合...
多功能偏振型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
多功能偏振型X射線熒光光譜儀具有多達十幾種校正模式(數學模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，已取得最佳的分析結果。
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級結構。
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質學、環境監測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量，幫助科學家和工程...
德國斯派克便攜式能量色散X射線光譜儀 參考價：面議
德國斯派克便攜式能量色散X射線光譜儀：COUT集和了SPECTROS MIDEX及優秀的手持式分析儀SPECTROS xSORT之大成，使SPECTROS CO...
X射線熒光光譜儀 參考價：面議
X射線熒光光譜儀具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。
德國斯派克偏振能量色散 參考價：面議
德國斯派克偏振能量色散在工業過程控制分析中，分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關重要的。SPECTRO iQ 在這一領域已建立了相應標準。
波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散型X射線熒光光譜儀靈活性強，可分析從F到U的固體，液體和粉末，在真空或充氦環境。標準配置12位自動進樣器，自動操作。作為ZSX系列理學臺式波長色散X射線...
SPECTRO 偏振能量色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
SPECTRO 偏振能量色散X射線熒光光譜儀擴展偏振光學系統使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發出的原始X射線通過高...
X射線熒光光譜儀 參考價：面議
X射線熒光光譜儀具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX ...
華普通用波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
華普通用波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有卓yue的性能和靈活性，能夠分析最復雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業內較薄的終端窗口管，用于檢測...
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有卓yue的性能和靈活性，能夠分析最復雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業內較薄的終端窗口管，用于檢測...
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有良好的性能和靈活性，能夠分析最復雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業內較薄的終端窗口管，用于檢測極低...
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀是一種科學儀器，用于分析物質中的化學元素。它基于X射線熒光原理，通過照射樣品并測量由樣品發出的特定波長的熒光輻射來確定樣品中存在的元素及...
x-熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀能夠提供元素的定性和定量分析結果。通過比較樣品熒光信號與已知標準樣品的對比，可以確定樣品中存在的元素及其相對含量。這種技術在材料分析、環...
波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析材料中元素組成的儀器。它基于X射線的特性，通過激發樣品產生熒光，并測量不同元素所發射的特定波長的熒光信號來鑒定和定量樣品中...
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
ZSX Primus III next，日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀X射線管位于分析樣品上方，減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險，并且無需在進行粉末樣品
理學波長色散型X射線熒光光譜儀 參考價：面議
理學波長色散型X射線熒光光譜儀Simultix 15是一種用于分析物質成分的儀器。它利用X射線與物質相互作用產生的特征性熒光輻射進行分析。
日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400專為處理非常大或重的樣品而設計，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分...
波長色散X射線熒光光譜儀 參考價：面議
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析。這是一種波長色散X熒光光譜儀（WD-...
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