首頁>>深圳華普通用科技有限公司>>產品展示>>分析檢測儀器>>材料膜厚儀
日本Otsuka顯微分光膜厚儀 參考價:面議
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學常數)1點1秒高速測量顯微...日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 參考價:面議
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學常數)1點1秒高速測量顯微...