LCD材料的超低階雙折射測量
用于LCD的Exicor GEN系列
Hinds Instruments 公司的大尺寸高精應力雙折射分布測量系統用于LED液晶玻璃基板的應力分布測量。產品測量精度*(0.005 nm)，且定制平臺掃描，用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm )光學玻璃應力測量，大型液晶基板應力分布測量，應力測量。如用于LCD(高達1500mm x 1500mm)的光學材料。
光學玻璃應力測量重要特點：
•占地小 - 大限度地減少設備所需的工廠空間
•平臺設計 -設計使可測量面積盡可能大
•強大的自動化 - 質量階段和硬件正常運行時間
•穩定的服務支持 - 各地的支持中心和備件中心
•符合工業標準 - 符合S2 / S8和CE標準
•靈活的軟件 - 優化的軟件。 自定義功能和DLL接口可用
•低維護設計 - 易于維修的組件
•負載輔助 - 傾斜階段選項
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