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瑞芯智造 Nanocoulter G 納米庫爾特粒度儀
打破DLS/NTA光學局限，媲美電鏡的單顆粒檢測技術。
瑞芯智造（深圳）科技有限公司在此基礎上開發的納米庫爾特粒度儀，shou創固體納米孔顆粒分析平臺，繞開傳統光學檢測方法的弊端（大顆粒遮擋小顆粒散射光；樣本折射率、吸光度、黏度影響測試結果），采用新一代電學檢測方法，將傳統的庫爾特計數儀的粒徑檢測下限從微米級下探到50nm，粒徑分辨率可達1nm，實現納米顆粒單顆粒檢測，一次測試得到多維度數據（粒徑、濃度、zeta電位、形態），在科學研究、生產品控、工藝控制、臨床診斷、醫藥研發等需要高精度納米顆粒檢測的場景，提供精準的數據，帶您走進精彩紛呈的納米世界。
產品介紹：
粒徑 | 媲美電鏡的粒徑測量精度
NanoCoulter測量聚苯乙烯標準微球等樣本的平均粒徑與粒徑分布，其結果與電鏡 (S E M ) 數據準確度及精度吻合。
濃度 | 精準的濃度測量與重復性
將樣本梯度稀釋，濃度數據線性關系良好 ，且與理論濃度相一致 (固含量理論計算) , 10次重復測試，C V < 5 % 。
電位 | 單顆粒Zeta電位測量
Zeta電位是一個表征分散體系穩定性的重要指標。在恒定電場作用下，顆粒移動速度與Zeta的絕對值正相關。NanoCoulter測量顆粒通過納米孔的時間從而獲得zeta電位數據，因此是*一可以做到單顆粒粒徑、Z e t a 電位、濃度同時測量的技術平臺。
瑞芯智造 Nanocoulter G 納米庫爾特粒度儀
