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UV400 GaN基外延片測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實測量，溫度范圍650…1300℃

Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計能夠自動探測測量材料發射率，可用于RTP、HDP-CVD、MOCVDUV固化和其它各種半導體工藝過程。OR40...

Sekidenko OR4000T 半導體高溫計可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導體工藝過程，應用于半導體硅片，外延，晶圓鍍膜等各...

Sekidenko OR400M半導體外延片測溫儀產品系列的應用范圍擴展至3.3um-5.2um的中紅外波長范圍。OR400M可進行單通溫度測量，用于半導體設備...

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